只要该信息，就的从新保存，从新再处理。

做测试时多选择几条波长，因为经常有光谱干扰。

打开校准看一下线性拟合度，Na的异常净强度很大。

谱图处理，results下examine,点击data,选择要处理的数据，不多全选，next完成，背景是平的，背景点不需要调节，有小峰的地方，调节背景点到没有峰的位置，往外拉，然后右击更新方法参数并保存。所有元素调节好后再打开再处理，查看结果如何。如果找不到合适的位置放背景点就去掉这个背景点，(调节一个波长保存一次方法参数)

这一课主要讲的背景点，积分像素调节。

做低于190nm波长的元素时，先氮气吹扫一下。减少干扰积分像素点缩短积分宽度。样品可能存在未知干扰。 峰偏移，查看干扰因素，拉姆达ID(根据样品特性判断干扰波长元素)，用不了也没办法使用，主体有铜合金。 干扰导致峰偏移峰变形，多普线拟合扣除。都调节好以后再处理数据。反复调节反复再处理。 背景点就是水平面点

谱图处理：点击Examine，点击Data，点击Select Data Set...，选择要处理的数据文件，然后选择数据文件中需要处理的具体数据（选择原则，空白，校准点，样品都必须要选上，如果相同类型样品较多，挑选其中几个），点击下一步，选择所有的波长，点击完成，

将背景点调至没有小峰的位置，如果背景点位置进行了调节，单击鼠标右键，选择Update Method Parameters...（更新方法参数），点击Update and save method（更新并保存方法）。

注意，调节一个波长，必须马上保存，不能调节完所有的波长在点保存，那样只能保存最后调节的波长。

出现负值的原因之一：连个背景点的连线为基线，基线以下如果有峰，就会出现负值。

如果背景点在谱图上没有太好的位置，就可以把背景点移到谱图的外侧（即去掉背景点）。

测量波长低于190nm，需要提前用N2或者Ar进行吹扫，不然会没有强度出来。

Points/peak：积分像素点，降低积分像素点的数字，可以减小积分区域，可以避免干扰峰进入积分区域。